https://www.go2smart.net
-
-
貴陽新天光電JSS系列手持激光三維掃描系統(tǒng)
貴陽新天光電JSS系列手持激光三維掃描系統(tǒng)產(chǎn)品特色:貴陽新天光電JSS系列手持激光三維掃描系統(tǒng)可廣泛應用于產(chǎn)品分析測量、逆向及工業(yè)設計、零部件到CAD檢測、初樣檢測(FAI)、仿真分析(FEA)、磨損分析及修復、快速制造、3D打印、文化遺產(chǎn)及珍貴文物的存檔、修復等行業(yè)。
-
貴陽新天光電YSC-100一鍵式快速測量儀
貴陽新天光電YSC-100一鍵式快速測量儀產(chǎn)品特色:貴陽新天光電YSC-100一鍵式快速測量儀可快速精確測量各種復雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差。
-
-
貴陽新天光電JVB-C系列全自動型影像測量儀
貴陽新天光電JVB-C系列全自動型影像測量儀產(chǎn)品特色:貴陽新天光電JVB-C系列全自動型影像測量儀采用自主研發(fā)的連續(xù)變倍物鏡,可以快速改變圖像的放大倍率,適用于不同工件的測量。
-
貴陽新天光電JVB-E系列半自動型影像測量儀
貴陽新天光電JVB-E系列半自動型影像測量儀產(chǎn)品特色:貴陽新天光電JVB-E系列半自動型影像測量儀的Z軸加裝電機,采用程控控制,實現(xiàn)自動對焦、影像測高,方便用戶快速測量。
-
貴陽新天光電JVB系列手動型影像測量儀
貴陽新天光電JVB系列手動型影像測量儀產(chǎn)品特色:貴陽新天光電JVB系列手動型影像測量儀主要適用于手機配件、家電制品、機械配件、精密夾具、塑膠、五金、電腦周邊行業(yè)、精密沖壓件等的測量。
-
南京利生光學機械LD—1型激光定中心儀
南京利生光學機械LD—1型激光定中心儀產(chǎn)品特色:南京利生光學機械LD—1型激光定中心儀可實時顯示(打印)透鏡角偏移度和中心偏差值,超差報警。
-
桂林量具刃具線徑檢測儀
桂林量具刃具線徑檢測儀產(chǎn)品特色:桂林量具刃具線徑檢測儀可實現(xiàn)一鍵檢測,快速完成報告。
-
桂林量具刃具小模數(shù)齒輪檢測儀
桂林量具刃具小模數(shù)齒輪檢測儀產(chǎn)品特色:桂林量具刃具小模數(shù)齒輪檢測儀采用非接觸測量方式,只需輸入模數(shù),一鍵啟動測量,即可快速測量多個齒輪參數(shù)。
-
桂林量具刃具三維掃描測量儀3DS 601
桂林量具刃具三維掃描測量儀3DS 601產(chǎn)品特色:桂林量具刃具三維掃描測量儀3DS 601采用面光源覆蓋+可傾斜旋轉(zhuǎn)載物臺,讓掃描不留盲區(qū)。
-
桂林量具刃具一鍵式圖形測量儀0S系列
桂林量具刃具一鍵式圖形測量儀0S系列產(chǎn)品特色:桂林量具刃具一鍵式圖形測量儀0S系列可實現(xiàn)多個產(chǎn)品同時測量,檢測速度快,幾秒內(nèi)完成幾十甚至上百個尺寸的測量。測量效率較傳統(tǒng)測量提升多倍。其中,桂量0S 501 PLUS還配備手勢操作。
-
江蘇優(yōu)普納LED類LED芯片自動AOI檢測設備
江蘇優(yōu)普納LED類LED芯片自動AOI檢測設備產(chǎn)品特色:江蘇優(yōu)普納LED類LED芯片自動AOI檢測設備主要用于測量LED/類LED芯片的表面刮傷、異物、崩邊、傾斜、殘金、纏膠、電極殘缺、引線斷裂等。
-
江蘇優(yōu)普納包覆燃料顆粒各包覆層厚度測量裝備
江蘇優(yōu)普納包覆燃料顆粒各包覆層厚度測量裝備產(chǎn)品特色:江蘇優(yōu)普納包覆燃料顆粒各包覆層厚度測量裝備的測量內(nèi)容包括核芯半徑、疏松熱解炭層厚度、內(nèi)致密熱解炭層厚度、碳化硅層厚度和外致密熱解炭層厚度等。
-
江蘇優(yōu)普納UPN200TX鏡片缺陷檢測設備
江蘇優(yōu)普納UPN200TX鏡片缺陷檢測設備產(chǎn)品特色:江蘇優(yōu)普納UPN200TX鏡片缺陷檢測設備用于鏡片模壓產(chǎn)出后,產(chǎn)品出現(xiàn)的傷、斷層、氣泡等外觀缺陷檢測。
-
-
江蘇優(yōu)普納噴油嘴全表面缺陷檢測裝備
江蘇優(yōu)普納噴油嘴全表面缺陷檢測裝備產(chǎn)品特色:江蘇優(yōu)普納噴油嘴全表面缺陷檢測裝備適用于測量噴油嘴金屬件的表面刀痕、毛刺、爛牙、劃傷、碰上、銹漬、震紋等。
-
-
南京利生光學機械K-104解像投影檢測儀
南京利生光學機械K-104解像投影檢測儀產(chǎn)品特色:南京利生光學機械K-104解像投影檢測儀主要用于塑料鏡片,短焦距玻璃鏡片以及各種鏡頭組的投影檢測。
-
南京利生光學機械SD-1G數(shù)字測角儀
南京利生光學機械SD-1G數(shù)字測角儀產(chǎn)品特色:南京利生光學機械SD-1G數(shù)字測角儀是一種新式的高精確度的角度測量設備,它用于各種光學多邊形元件已拋光面之間的平面角度的測量。