Shadow 是一種易于使用的直接測量系統(tǒng)，適用于最大 3.5 毫米的幅材
Shadow 的工作原理是測量輥上的激光遮擋。
它是一個直接測量系統(tǒng)，因此與薄膜的特性無關。
影子是一種非核技術，不需要許可或保護措施。
應用領域
陰影對材質屬性、透明度、顏色和不透明度不敏感。 Shadow可以測量單層、多層和壓花材料的總厚度。
應用包括：
擠出片材、泡沫、復合材料、多層/壓花材料、壓延片材、橡膠、涂層基材、無紡布。
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← 500 毫米 - 8 米 →
陰影寬度為 500 毫米至 8 米
≤3微米
超精密厚度測量，精度≤ 3 μm
≤3.5毫米
Shadow適合材料厚度達3.5毫米
測量原理
激光遮光/渦流
傳感器頭包含 2 個傳感器：激光陰影傳感器和渦流傳感器。遮光傳感器將激光束發(fā)送到測量輥和待測量的薄膜上。接收器（線掃描相機）檢測膠片和滾筒的陰影。渦流傳感器永久測量傳感器頭到測量輥的距離。兩次測量的結果直接給出薄膜的厚度。
校準
無需校準。該測量與薄膜特性無關。
技術規(guī)格：
技術規(guī)格 陰影
傳感器系統(tǒng) 激光遮擋/渦流
最大限度 厚度 3.5毫米
測量切割 5.5毫米
傳感器直徑 30毫米
測量光斑直徑 0.5毫米
傳感器分辨率 0.5微米
重復性 ≤ ± 1.5 微米
測量速度 10 – 300 毫米/秒可調
處理速度 10 – 500 毫米/秒可調
校準 不強制
基準輥直徑 200毫米
