無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI SunStar非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI SunStar極大地擴展了分析能力,同時又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進行復雜的測量模式切換,也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過標準化的方法、程序和報告,CCI SunStar可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中。