無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識保持與時俱進，能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴苛測量要求。 CCI光學(xué)裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與無與倫比的工程設(shè)計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI獨特的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計的出色計量包裝 。
